Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
Keterangan Bibliografi
| Penerbit | : |
| Pengarang | : ASTM International |
| Kontributor | : |
| Kota terbit | : |
| Tahun terbit | : 2004 |
| ISBN | : |
| Subyek | : |
| Klasifikasi | : ASTM E2382 - 04 |
| Bahasa | : Indonesia |
| Edisi | : 03.06 |
| Halaman | : |
Jenis Koleksi Pustaka
ASTM
Abstraksi
Tidak ada Abstraksi
Inventaris
| # | Inventaris | Dapat dipinjam | Status Ada |
| 1 | 20119 | Ya |