Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer

Keterangan Bibliografi
Penerbit :
Pengarang : ASTM International
Kontributor :
Kota terbit :
Tahun terbit : 2005
ISBN :
Subyek :
Klasifikasi : ASTM E2244 - 05
Bahasa : Indonesia
Edisi : 03.01
Halaman :
Jenis Koleksi Pustaka

ASTM

Abstraksi

Tidak ada Abstraksi

Inventaris
# Inventaris Dapat dipinjam Status Ada
1 20028 Ya