Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors
Keterangan Bibliografi
| Penerbit | : |
| Pengarang | : ASTM International |
| Kontributor | : |
| Kota terbit | : |
| Tahun terbit | : 2008 |
| ISBN | : |
| Subyek | : |
| Klasifikasi | : ASTM F76 - 08 |
| Bahasa | : Indonesia |
| Edisi | : 10.04 |
| Halaman | : |
Jenis Koleksi Pustaka
ASTM
Abstraksi
Tidak ada Abstraksi
Inventaris
| # | Inventaris | Dapat dipinjam | Status Ada |
| 1 | 18254 | Ya |