Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
Keterangan Bibliografi
| Penerbit | : |
| Pengarang | : ASTM International |
| Kontributor | : |
| Kota terbit | : |
| Tahun terbit | : 2006 |
| ISBN | : |
| Subyek | : |
| Klasifikasi | : ASTM E1162 - 06 |
| Bahasa | : Indonesia |
| Edisi | : 03.06 |
| Halaman | : |
Jenis Koleksi Pustaka
ASTM
Abstraksi
Tidak ada Abstraksi
Inventaris
| # | Inventaris | Dapat dipinjam | Status Ada |
| 1 | 19298 | Ya |